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小體積、低電容的SESD器件為高速I/O接口提供保護
便攜設備的持續(xù)小型化與功能提升相結(jié)合，使得系統(tǒng)需要更強有力的保護以免受ESD事件引起的損壞。ESD瞬態(tài)事件可能破壞設備的運行或者導致潛在的損害和安全問題。小體積、低電容的SESD器件提供了一種簡單的、高性價比成本效益的解決方案。
2011-12-02
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3G手機顯示屏和照相機模塊的ESD保護
豐富多媒體業(yè)務推動3G手機中LCD顯示屏和照相機的分辨率走上一個又一個新臺階。不過，將顯示屏和照相模塊連接到基帶電路或者多媒體處理器之間的接口設計將面臨更嚴重的ESD、EMI問題。下面討論的來自意法半導體(ST)的方案將有助于解決這個問題。
2011-11-30
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雙極型集成電路的ESD保護
靜電放電(ESD)會對集成電路(IC)造成破壞性的能量沖擊，良好的IC設計能夠在IC裝配到應用電路的過程中保護IC免遭ESD沖擊的破壞。安裝后，IC還必須能夠承受ESD穿過靜電防護電路進入最終電路的沖擊。除此之外，機械防護、電源去耦電容都有助于提高ESD保護能力，但是，如果電容選擇不當將會造成IC更容易損壞。為了給IC提供合理的ESD保護，需要考慮以下內(nèi)容：
2011-11-28
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長三角市場漸成可靠性安規(guī)產(chǎn)品價值高地
由電子元件技術(shù)網(wǎng)(hiighwire.com）攜手中國電子展、我愛方案網(wǎng)(www.52solution.com）和China outlook consulting主辦的電路保護與電磁兼容技術(shù)專題展覽，已于11月9日-11日與第78屆中國電子展同期在上海舉辦。20余家國內(nèi)外專業(yè)技術(shù)廠商參加了展覽以及相關(guān)的行業(yè)活動，集中展示了電路保護、防雷技術(shù)、ESD防護、電磁兼容等可靠性安規(guī)技術(shù)。本次展覽也成為該領(lǐng)域本年度內(nèi)最具規(guī)模的一次技術(shù)交流盛會。
2011-11-15
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第十屆電路保護與電磁兼容技術(shù)研討會現(xiàn)場盛況【圖文】
本屆研討會聚焦長三角地區(qū)的新興應用的實際需求，邀請國際知名廠商技術(shù)專家分享過流過壓保護、防雷設計、ESD防護、EMC設計方案等技術(shù)熱點，為工程師帶來實用和有效的技術(shù)方案。Bourns、Murata、AEM科技、深圳順絡電子、君耀、蘇州泰思特、東莞貝特等知名廠商的技術(shù)專家以及EMC知名專家錢振宇教授分享了過流過壓保護元件選型、可靠電路設計、雷擊防護和EMC創(chuàng)新方案等議題，精彩看點不斷！
2011-11-10
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VBUS54ED-FBL：Vishay推出超小尺寸4線總線端口保護陣列用于便攜產(chǎn)品
日前，Vishay Intertechnology, Inc.宣布，推出采用新型超小尺寸LLP2510封裝的新款4線ESD保護陣列---VBUS54ED-FBL。VBUS54ED-FBL的占位面積只有2.5mmx1.0mm，高度低至0.55mm，其低電容和低泄漏電流的特性可以保護高速信號線免受瞬態(tài)電壓信號的損害。
2011-11-08
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應用于便攜及消費產(chǎn)品的完整ESD及EMI保護方案
對于電子產(chǎn)品而言，保護電路是為了防止電路中的關(guān)鍵敏感型器件受到過流、過壓、過熱等沖擊的損害。保護電路的優(yōu)劣對電子產(chǎn)品的質(zhì)量和壽命至關(guān)重要。隨著消費類電子產(chǎn)品需求的持續(xù)增長，更要求有強固的靜電放電（ESD）保護，同時還要減少不必要的電磁干擾（EMI）/射頻干擾（RFI）噪聲。
2011-10-27
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小尺寸集成電路CDM測試
集成電路(IC)的靜電放電(ESD)強固性可藉多種測試來區(qū)分。最普遍的測試類型是人體模型(HBM)和充電器件模型(CDM)。這兩種ESD測試類型旨在揭示包含基本ESD控制的制造環(huán)境下，電路在ESD應力下的存續(xù)情況如何。HBM是應用最久的ESD測試，但工廠ESD控制專家普遍認為，在現(xiàn)代高度自動化的組裝運營中，CDM是更重要的ESD測試。CDM應力的大小會隨著器件的尺寸而變化。有關(guān)CDM的“傳統(tǒng)智慧”更認為不需要測試尺寸極小的集成電路，因為峰值電流快
2011-10-12
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USB 3.0應用的ESD保護設計
USB是通用串行總線的簡稱，這是目前個人計算機與其它外部設備聯(lián)機使用最為廣泛的一種傳輸接口。本文主要介紹USB3.0連接端口ESD保護組件的要素以及采用AZ1065的USB 3.0 應用ESD保護方案。
2011-10-10
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打造高可靠性設計專業(yè)盛會
電路保護與電磁兼容技術(shù)廠商齊聚上海由CNT Networks聯(lián)手中國電子展組委會、China Outlook Consulting主辦的電路保護與電磁兼容技術(shù)專區(qū)，將于2011年11月9日-11日在上海舉辦的第78屆中國電子展中閃亮登場。作為國內(nèi)唯一一個聚焦電路保護與電磁兼容設計技術(shù)的專業(yè)展示活動，本屆活動共聚集了國內(nèi)外超過20家的專業(yè)技術(shù)廠商參展，主要展示電路保護、防雷技術(shù)、ESD防護、電磁兼容等相關(guān)技術(shù)及解決方案，它將成為2011年度最具規(guī)模的一次電子系統(tǒng)高可靠性設計技術(shù)交流的盛會。
2011-09-29
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VCUT05D1-SD0：Vishay推出超小型ESD保護二極管用于便攜電子產(chǎn)品
日前，Vishay Intertechnology, Inc.宣布，推出采用超小型CLP0603硅封裝的新款雙向?qū)ΨQ(BiSy)單路ESD保護二極管---VCUT05D1-SD0。VCUT05D1-SD0具有10pF的低電容，可在便攜式電子產(chǎn)品中保護信號和數(shù)據(jù)線路免受瞬態(tài)電壓信號的侵擾，并大大節(jié)省PCB空間。
2011-09-28
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淺談USB 3.0的電路保護方案
最新USB 3.0協(xié)議(或“SuperSpeed USB”)被開發(fā)用于提供更高的數(shù)據(jù)傳輸速率，并通過支持每個端口上的更高電流水平提高供電能力。它包含新的電源管理功能，以及可向后兼容USB 2.0設備的新電纜和連接器。最顯著的變化是，4條附加的銅數(shù)據(jù)線被平行地增加到現(xiàn)有的USB 2.0總線中(如圖1所示)。這些附加的銅數(shù)據(jù)線被用來傳輸超高速數(shù)據(jù)，但也會傳輸ESD(靜電放電)和其它有害的瞬態(tài)電壓。本文介紹USB3.0的過流、過壓和ESD保護方案。
2011-09-28
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