【導讀】安捷倫科技和 Cascade Microtech日前宣布雙方結(jié)成戰(zhàn)略合作關(guān)系，旨在為客戶提供經(jīng)過全面配置和驗證的射頻測量解決方案，該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導體測量，而且還能提供有保障的配置、安裝及支持，統(tǒng)一的、獨特的晶片級直流和射頻測量解決方案增強了客戶的測量信心。
從測量配置到精確驗證
晶片級射頻測量系統(tǒng)的選定和配置是一項費時費力的工作，客戶通常需要對多個供應商提供的測試設(shè)備進行現(xiàn)場配置與驗證，并且必須為初次測量預留更久的設(shè)置時間。借助安捷倫與 Cascade Microtech聯(lián)合推出的晶片級測量解決方案（WMS），半導體客戶現(xiàn)在能夠使用適當?shù)脑O(shè)備執(zhí)行精確、可重復的直流和射頻測量以及器件表征和建模，以便顯著縮短初次測量設(shè)置時間。
最新的晶片級測量解決方案整合了 Cascade Microtech 的晶圓探針臺、探針和校準工具以及安捷倫測試儀器和測量分析軟件，將會為半導體測試帶來深遠影響。每種解決方案配置在出廠前均已通過預先驗證，以滿足客戶的特定應用需求，在 Cascade Microtech 解決方案專家安裝完畢后，可根據(jù)之前商定的驗收標準再次驗證配置。安捷倫或 Cascade Microtech 承諾免費填補解決方案缺失的任何部件，以確?？蛻粝硎苡斜Ｕ系呐渲?。
另外，在 Agilent WaferPro-XP 測量軟件的基礎(chǔ)上，安捷倫和 Cascade Microtech 共同開發(fā)了獨特的工作流程解決方案軟件。加上 Cascade Microtech 的 Velox 探針臺軟件，客戶現(xiàn)在可以開發(fā)出適合多種測量需求的全面晶圓測試套件（例如，S 參數(shù)、DC-IV/CV、噪聲系數(shù)、閃變噪聲和增益壓縮）。這種組合軟件為測試開發(fā)提供了相干環(huán)境。
每個晶片級測量解決方案均配有完善的支持套件，并且允許客戶聯(lián)系經(jīng)驗豐富的區(qū)域解決方案專家以索取晶圓上測試測量技巧。Cascade Microtech 提供單點聯(lián)系方式，幫助客戶迅速解決問題。
評價
安捷倫副總裁兼元器件測試事業(yè)部總經(jīng)理 Gregg Peters 表示：“安捷倫和 Cascade Microtech 作為測試測量行業(yè)和晶圓上探測領(lǐng)域的全球領(lǐng)導者，它們擁有精深的專業(yè)技術(shù)和豐富的產(chǎn)品生產(chǎn)線，可以提供用于晶片級器件測試的全部構(gòu)建模塊。通過協(xié)同的資源和方案，我們面向雙方共同的半導體客戶首次推出了獨特的不同以往的晶片級測量解決方案。”
Cascade Microtech 總裁兼首席運營官 Michael Burger 表示：“半導體制程的開發(fā)、建模和表征任務(wù)日趨復雜化，而產(chǎn)品上市周期卻在不斷縮減，客戶對測量精度的要求也越來越嚴苛。我們攜手安捷倫開發(fā)了值得信賴的晶片級測量解決方案，幫助工程師對半導體元件和器件執(zhí)行精確、快速的高級直流和射頻測量，以確保他們及時推出高質(zhì)量的產(chǎn)品。”
定價及上市信息
安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發(fā)的晶片級射頻測量解決方案現(xiàn)在提供多種配置選擇，從采用半自動或手動探針臺的新的高度集成解決方案、到在現(xiàn)有的探針臺上進行特定應用硬件升級。新型 Agilent WaferPro-XP 測量軟件平臺適用于研發(fā)器件表征，可與現(xiàn)有的晶片級測量解決方案配合使用。定價取決于客戶所選擇的解決方案配置。如欲了解特定定價和銷售信息，請聯(lián)系您當?shù)氐陌步輦惉F(xiàn)場工程師或 Cascade Microtech 銷售經(jīng)理。
如欲了解安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發(fā)的晶片級測量解決方案，請訪問 www.agilent.com/find/wms 和 www.cascademicrotech.com/measureone。瀏覽圖像，請訪問 www.agilent.com/find/wms_images。有關(guān)背景介紹，請訪問 www.agilent.com/find/wms_backgrounder。
