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如何將EMC問題“扼殺”在產(chǎn)品開發(fā)過程中的“搖籃里”?

發(fā)布時間:2016-06-22 責任編輯:wenwei

【導讀】傳統(tǒng)的電子產(chǎn)品的開發(fā)設(shè)計思路都是產(chǎn)品成型后再進行一系列的測試,通過測試判定產(chǎn)品是否符合各項指標的要求,但是這種設(shè)計思路存在的弊端就是只能等產(chǎn)品成型后再進行驗證,項目周期會非常長,同時一旦產(chǎn)品驗證失敗,需要進行一系列的整改、測試,這樣對于整個項目的周期、成本都是非常大的浪費。本文主要是從項目開發(fā)的并行角度闡述如何結(jié)合EMC設(shè)計到開發(fā)過程中,來解決這一設(shè)計管理問題。

電子技術(shù)正在朝著不斷智能化方向飛速發(fā)展。對于智能化的高科技產(chǎn)品,需要集成多個功能模塊,而這些模塊之間的兼容性就是當前電子產(chǎn)品設(shè)計的重中之重。電磁的兼容性是目前電子產(chǎn)品開發(fā)過程中比較頭疼的一件工作,而目前國際標準對這方面要求非常嚴格,認證機構(gòu)也有嚴格的產(chǎn)品上市管理體系,這就需要我們在產(chǎn)品開發(fā)過程中就融入EMC設(shè)計,只有做到這一點才能夠更加高效的完成一個優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品。

1 體系管控形成質(zhì)變:


傳統(tǒng)的開發(fā)流程分為5個環(huán)節(jié),產(chǎn)品的需求分析、方案評審、設(shè)計階段、調(diào)試階段、驗證階段。按照此開發(fā)流程,在調(diào)試階段才會進行EMC測試,首次對產(chǎn)品的EMC性能進行判定,一旦測試合格,就進行項目結(jié)案,我們不清楚產(chǎn)品究竟優(yōu)點在哪里;但是一旦產(chǎn)品出現(xiàn)問題,也只能在現(xiàn)有的基礎(chǔ)上進行修修補補。真正的要想做好產(chǎn)品,必須從產(chǎn)品的開發(fā)初期就將EMC考慮進去。

如何將EMC問題“扼殺”在產(chǎn)品開發(fā)過程中的“搖籃里”?

在需求分析階段,我們就對產(chǎn)品的應(yīng)用環(huán)境進行評估,包括產(chǎn)品的未來考慮的市場范圍,對應(yīng)市場的基本要求。尤其是產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境,特定環(huán)境產(chǎn)品實現(xiàn)的技術(shù)指標要重點進行評估、考量;產(chǎn)品的方案評審階段需要對產(chǎn)品具體的指標如何在產(chǎn)品設(shè)計過程進行考量,包括實現(xiàn)方式是裸機狀態(tài)實現(xiàn)?還是應(yīng)用電路實現(xiàn)?需要將這些具體的指標進行明確;在設(shè)計階段就需要對硬件電路、結(jié)構(gòu)設(shè)計、工藝安裝、接地設(shè)計、PCB設(shè)計進行綜合評估。傳統(tǒng)的思維模式認為只需要設(shè)計好電路就可以解決EMC問題,其實工藝安裝、結(jié)構(gòu)設(shè)計、接地設(shè)計、PCB設(shè)計對產(chǎn)品整機EMC性能的影響遠遠大于電路本身。我們需要逐個考慮這些環(huán)節(jié)的EMC問題,并在這個階段把所有的風險都預估出來,同時要有對策保障,只有做到這一點才能夠在下個環(huán)節(jié)“調(diào)試階段”處理地得心應(yīng)手;調(diào)試階段必須對產(chǎn)品立項階段制定的指標一一進行驗證,對于出現(xiàn)的問題再利用設(shè)計階段中設(shè)計的措施進行調(diào)整,這樣就可以系統(tǒng)的解決問題,收尾驗證就按照行業(yè)要求進行認證上市。

2 細節(jié)決定成?。?/strong>

電子產(chǎn)品開發(fā)設(shè)計過程中,傳統(tǒng)的思路認為只要電路設(shè)計充分就可以解決所有問題,但是通過多年的實踐證實,僅僅做好電路設(shè)計是不可能解決EMC方面的問題的,必須關(guān)注其它影響:

如何將EMC問題“扼殺”在產(chǎn)品開發(fā)過程中的“搖籃里”?

2.1端口電路設(shè)計:

供電端口電路有必不可少的三部分:安全防護、濾波電路及電源轉(zhuǎn)換,關(guān)于這三部分的布局設(shè)計必須遵守走直線的原則。如果按照圖2左圖設(shè)計,當輸入端口的瞬時脈沖輸入,這種瞬時脈沖存在高頻分量(如圖3),會形成走線和走線之間的耦合,從而導致濾波電路失效,甚至隔離電源隔離產(chǎn)生的穩(wěn)定直流電壓也會受到影響,實現(xiàn)不了原有的設(shè)計功能。要把電路的設(shè)計功能落實到實際的應(yīng)用中,就如我們上面所講,必須按照走直線的原則(如圖2右圖)進行設(shè)計。

如何將EMC問題“扼殺”在產(chǎn)品開發(fā)過程中的“搖籃里”?

2.2 I/O口電路設(shè)計:

I/O口電路的設(shè)計同樣受到PCB布局及接地設(shè)計的影響。如圖4第一幅圖的端口防護器件的接地和后端被保護的IC的地進行共地設(shè)計,這種設(shè)計一旦瞬態(tài)脈沖被鉗位卸放到地上面,由于這個地同時也是IC的參考地,很容易導致IC地電位抬高而出現(xiàn)異常;改善方案主要有兩種:如果系統(tǒng)是兩線制設(shè)備(無地線)系統(tǒng)外殼也是非金屬材質(zhì),此地線設(shè)計也必須將IC的參考地和防護器件的地分開,不能共用在一起,但是由于此系統(tǒng)屬于無地線系統(tǒng),可以采用這兩個部分分別鋪設(shè)不同的接地區(qū)域,然后使用Y電容將兩個區(qū)域的地線連接在一起。另外一種是系統(tǒng)有設(shè)計地線或者外殼屬于金屬外殼,這種情況就可以將防護器件的接地直接連到外殼地或者通過Y電容連接到外殼地,但是一定要和IC的參考地分開。

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上面提到的PCB走線的設(shè)計導致防護電路失效的問題,通過右圖5就可以看到端口設(shè)計了TVS管防護ESD,但是如果布線按照第一幅圖這樣走線,極易導致IC損壞,但是TVS管還沒有動作的,主要是由于現(xiàn)有的ESD或者EFT都是高頻干擾,走線阻抗大,所以對于端口的防護電路設(shè)計一定要遵守靠近端口的原則進行設(shè)計PCB.

如何將EMC問題“扼殺”在產(chǎn)品開發(fā)過程中的“搖籃里”?

2.3 EMI電路設(shè)計:

金升陽電源自身在電磁干擾方面投入了很大的設(shè)計成本,內(nèi)部增加了濾波電路、屏蔽措施等,保證符合承諾的各項指標要求,但是電源在應(yīng)用方面還是難免出現(xiàn)電磁干擾超標的問題;此時,很多的設(shè)計工程師都會認為問題的根源在于電源,這種認識其實是有誤區(qū),因為電磁干擾傳導騷擾測試項目,主要是針對電源端口的,那么電源端口就成了他的傳輸路逕,所有的電磁干擾都會經(jīng)過電源端口到達被測設(shè)備,測試設(shè)備測試到的電磁干擾除了來自電源本身外,主要的部分還包括整機中的其他部分產(chǎn)生的電磁干擾,以及設(shè)備內(nèi)部寄生參數(shù)的諧振產(chǎn)生的電磁干擾。電源內(nèi)部的濾波器無法對這類電磁干擾進行抑制,這些電磁干擾就通過電源端口耦合到測試設(shè)備。為了應(yīng)對千差萬別的應(yīng)用環(huán)境,電源廠家設(shè)計濾波器時,除了抑制電源內(nèi)部干擾,還會考慮到濾波器衰減特性及頻譜特性,盡量預留最大的設(shè)計余量。那么這就要求我們的整機設(shè)計人員在設(shè)計電源前端時候,一定要按照電源廠家推薦的應(yīng)用電路進行設(shè)計,例如:LH15產(chǎn)品應(yīng)用過程中出現(xiàn)EMI超標問題(見下圖)。

如何將EMC問題“扼殺”在產(chǎn)品開發(fā)過程中的“搖籃里”?
圖6為金升陽電源LH15-13B05傳導騷擾測試結(jié)果,此結(jié)果符合EN55022/CISPR22的CLASS B要求,而且余量非常充分。

如何將EMC問題“扼殺”在產(chǎn)品開發(fā)過程中的“搖籃里”?
圖7上圖為金升陽電源LH15-13B05的電源應(yīng)用到某品牌產(chǎn)品上面后,整機測試傳導騷擾結(jié)果,此結(jié)果無法符合EN55022/CISPR22的CLASS B要求,甚至連CLASS A都無法滿足要求,更不用說設(shè)計余量。

所以電源即使內(nèi)部電磁干擾設(shè)計等級再高,在應(yīng)用過程中一定要留應(yīng)用部分,具體參數(shù)可參考具體產(chǎn)品對應(yīng)的規(guī)格書。金升陽的電源產(chǎn)品在規(guī)格書中都會有應(yīng)用電路這一欄,會將在應(yīng)用電路的基礎(chǔ)上實現(xiàn)的指標,描述的非常詳細。

3 結(jié)語:

整機電磁兼容設(shè)計其實是一個系統(tǒng)性工程,任何一個點設(shè)計不到位都可能導致設(shè)計失敗,甚至會付出沉重的成本代價。目前,行業(yè)內(nèi)對于這方面的設(shè)計失敗原因局限于電源方面,而忽視PCB設(shè)計、結(jié)構(gòu)設(shè)計及接地設(shè)計等方面。有效解決EMC問題,需要我們在設(shè)計初期就充分評審指標定位、應(yīng)用環(huán)境;在設(shè)計過程中充分評審電路圖設(shè)計、原材料選型、PCB繪制、結(jié)構(gòu)設(shè)計、工藝安裝等各方面,不斷地優(yōu)化開發(fā)流程,實現(xiàn)在開發(fā)過程中考量所有問題。



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