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如何在大功率應(yīng)用中減少損耗、提高能效并擴(kuò)大溫度范圍

發(fā)布時(shí)間:2023-10-08 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】功耗密集型應(yīng)用的設(shè)計(jì)人員需要更小、更輕、更節(jié)能的電源轉(zhuǎn)換器,能夠在更高電壓和溫度下工作。在電動(dòng)汽車 (EV) 等應(yīng)用中尤其如此,若能實(shí)現(xiàn)這些改進(jìn),可加快充電速度、延長(zhǎng)續(xù)航里程。為了實(shí)現(xiàn)這些改進(jìn),設(shè)計(jì)人員目前使用基于寬帶隙 (WBG) 技術(shù)的電源轉(zhuǎn)換器,例如碳化硅 (SiC) 電源轉(zhuǎn)換器。


功耗密集型應(yīng)用的設(shè)計(jì)人員需要更小、更輕、更節(jié)能的電源轉(zhuǎn)換器,能夠在更高電壓和溫度下工作。在電動(dòng)汽車 (EV) 等應(yīng)用中尤其如此,若能實(shí)現(xiàn)這些改進(jìn),可加快充電速度、延長(zhǎng)續(xù)航里程。為了實(shí)現(xiàn)這些改進(jìn),設(shè)計(jì)人員目前使用基于寬帶隙 (WBG) 技術(shù)的電源轉(zhuǎn)換器,例如碳化硅 (SiC) 電源轉(zhuǎn)換器。

與硅 (Si) 轉(zhuǎn)換器相比,這類器件的工作電壓更高、重量更輕,但功率處理能力相似。它們還能在更高的溫度下工作,從而減少對(duì)冷卻系統(tǒng)的需求。SiC 器件可以在更高的開關(guān)頻率下工作,因而允許使用更小的無(wú)源元器件,減小了轉(zhuǎn)換器的尺寸和重量。并且,SiC 仍在不斷發(fā)展,最新的研究成果是“導(dǎo)通”電阻降低,進(jìn)一步減小了功率損耗。

本文以電動(dòng)汽車為背景,簡(jiǎn)要討論了 SiC 相對(duì)于 Si 的優(yōu)勢(shì)。隨后討論了 SiC 的發(fā)展,然后介紹了 ROHM Semiconductor 的第四代 SiC MOSFET,并說(shuō)明它們?nèi)绾螏椭O(shè)計(jì)人員降低功耗和成本以及減小基底面

為何使用 SiC?

電動(dòng)汽車需要擴(kuò)充電池容量才能增加續(xù)航里程。在這種趨勢(shì)下,為了縮短充電時(shí)間,電池電壓被提高到 800 V。因此,電動(dòng)汽車設(shè)計(jì)人員需要能夠耐受更高電壓,同時(shí)又能減少電力損耗和重量的器件。ROHM Semiconductor 的第四代 SiC MOSFET 具有更高的電壓耐受水平、更低的傳導(dǎo)和開關(guān)損耗以及更小的尺寸,可降低損耗。

SiC 是一種 WBG 半導(dǎo)體,與 Si MOSFET 技術(shù)相比,在高壓功率開關(guān)應(yīng)用中的能效異常突出。通過(guò)對(duì) SiC 和 Si 的物理特性進(jìn)行比較,可以看出這種改進(jìn)主要基于 5 個(gè)物理特性:擊穿電場(chǎng)、帶隙、導(dǎo)熱率和熔點(diǎn)(圖 1)。


如何在大功率應(yīng)用中減少損耗、提高能效并擴(kuò)大溫度范圍
圖 1:從 5 個(gè)物理特性看 SiC 相對(duì)于 Si MOSFET 的優(yōu)勢(shì)。(圖片來(lái)源:ROHM Semiconductors)


SiC 的擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度是 Si 的 10 倍,因而可以設(shè)計(jì)具有更高擊穿電壓的器件,同時(shí)減小器件厚度。SiC 的帶隙更寬,允許器件在更高的溫度下工作。熱導(dǎo)率更高,減少了冷卻設(shè)備所需的工作量,而較高的熔點(diǎn)則增加了工作溫度范圍。最后,SiC 的飽和電子漂移速度更高,可實(shí)現(xiàn)更高的開關(guān)頻率和更低的開關(guān)損耗。開關(guān)頻率更高,則需要的濾波器和其他無(wú)源元器件更小,從而進(jìn)一步減小尺寸和重量。

MOSFET 的發(fā)展

最初的 SiC MOSFET 采用平面結(jié)構(gòu),器件柵極和溝道位于半導(dǎo)體表面。由于為提高器件產(chǎn)量而可減小的設(shè)計(jì)尺寸受限,因此平面器件的元器件密度有限。使用單溝槽和雙溝槽型 MOSFET 能夠?qū)崿F(xiàn)更高的器件密度(圖 2)。


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圖 2:溝槽型 MOSFET 通過(guò)豎向排布器件元件實(shí)現(xiàn)了更高的器件密度。(圖片來(lái)源:ROHM Semiconductor)


與其他 MOSFET 類似,溝槽型 MOSFET 單元包含漏極、柵極和源極,但豎向排列。借助場(chǎng)效應(yīng),形成豎向溝道,與柵極溝槽平行。電流的流向是從源極豎向流到漏極。與橫向排布并占用大量表面積的平面器件相比,這種結(jié)構(gòu)非常緊湊。

單溝槽結(jié)構(gòu)使用單柵極溝槽。雙溝槽器件既有柵極溝槽,也有源極溝槽。ROHM Semiconductor 在其第三代 SiC MOSFET 中采用了雙溝槽結(jié)構(gòu)。第四代設(shè)計(jì)改進(jìn)了雙溝槽設(shè)計(jì),減小了單元尺寸,進(jìn)一步降低了導(dǎo)通電阻和寄生電容,從而大幅降低了功率損耗,并提供使用更小 SiC 器件的選擇,以支持更具成本效益的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

降低 MOSFET 的導(dǎo)通電阻可能會(huì)影響其處理短路的能力。但是,第四代 SiC MOSFET 在不犧牲短路耐受時(shí)間的前提下實(shí)現(xiàn)了更低的導(dǎo)通電阻,從而使這些器件在實(shí)現(xiàn)高能效和強(qiáng)大的短路穩(wěn)健性方面具有顯著優(yōu)勢(shì)。

了解損耗

開關(guān)模式轉(zhuǎn)換器的損耗來(lái)自多個(gè)方面;與有源器件相關(guān)的損耗包括傳導(dǎo)損耗、開關(guān)損耗和體二極管損耗(圖 3)。


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圖 3:降壓式 DC/DC 轉(zhuǎn)換器的示意圖,標(biāo)出了開關(guān)波形和相關(guān)損耗波形。(圖片來(lái)源:ROHM Semiconductor)


降壓轉(zhuǎn)換器采用圖騰柱設(shè)計(jì),帶有一個(gè)高壓側(cè) (SH) 和一個(gè)低壓側(cè) (SL) MOSFET 開關(guān)。這些開關(guān)為異相驅(qū)動(dòng),因此每次只有一個(gè)開關(guān)導(dǎo)通。柵極驅(qū)動(dòng)波形(VGSH 和 VGSL)顯示了因器件寄生電容的相關(guān)充電間隔而產(chǎn)生的振幅階躍。圖中顯示了兩種器件的漏極至源極電壓(VDSH、VDSL)和漏極電流(IDH、IDL)波形。器件導(dǎo)通時(shí),VDS 為低電平。器件關(guān)斷時(shí),VDS 為高電平。在 SH 導(dǎo)通期間,漏極電流線性增加,同時(shí)對(duì)電感器的磁場(chǎng)充電。在此期間,通過(guò)溝道電阻的電流會(huì)在溝道上產(chǎn)生電壓,從而導(dǎo)致傳導(dǎo)損耗 (PCOND),該損耗與電流的平方和溝道導(dǎo)通電阻成正比。在器件改變狀態(tài)的時(shí)間間隔內(nèi),電壓和電流都不為零,器件的耗散功率與電壓、電流、開關(guān)轉(zhuǎn)換時(shí)間和開關(guān)頻率成正比。這就是開關(guān)損耗。

SL 導(dǎo)通時(shí)也會(huì)出現(xiàn)類似情況。在這種情況下,當(dāng)電感器中儲(chǔ)存的能量為下部器件提供漏極電流時(shí),電流呈線性下降。同樣,溝道電阻作為傳導(dǎo)損耗耗散功率。請(qǐng)注意,在電流變?yōu)榉橇阒?,下部器件中?VDSL 接近零,因此周期的這一部分不存在開關(guān)損耗。

恢復(fù)損耗 (PQrr) 是由器件體二極管的恢復(fù)導(dǎo)致;為簡(jiǎn)單起見,僅顯示高壓側(cè)的恢復(fù)損耗。

Pbody 是器件的體二極管傳導(dǎo)損耗。此損耗是由通過(guò)低壓側(cè)器件的體二極管傳導(dǎo)的電流產(chǎn)生。

總功率損耗是兩個(gè)晶體管所有這些分量的總和。

第四代 SiC MOSFET 的性能提高

我們使用一款 5 kW 全橋逆變器對(duì) Si IGBT 以及第三代和第四代 SiC MOSFET 的性能進(jìn)行了比較(圖 4)。在這種全橋電路中,開關(guān)器件并聯(lián)在一起,以獲得更大的電流能力。全橋共使用 8 個(gè)器件。左圖中的 8 個(gè)器件安裝在散熱片上。我們用原始 IGBT 以及第三代和第四代 MOSFET 對(duì)電路的能效進(jìn)行了評(píng)估。該逆變器的 SiC MOSFET 開關(guān)頻率為 40 kHz,IGBT 開關(guān)頻率為 20 kHz。


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圖 4:5 kW 無(wú)風(fēng)扇逆變器及其原理圖。該電路最初設(shè)計(jì)使用硅 IGBT,運(yùn)行頻率為 20 kHz,后來(lái)使用第三代和第四代 SiC MOSFET,運(yùn)行頻率為 40 kHz。對(duì)所有三種半導(dǎo)體類型的性能進(jìn)行了比較。(圖片來(lái)源:ROHM Semiconductor)

第三代器件是 ROHM Semiconductor SCT3030AL 器件,額定電壓為 650 V,溝道電阻 (RDS(ON)) 為 30 mΩ。第四代 MOSFET 是 ROHM Semiconductor SCT4026DEC11。第四代器件的額定電壓提升至 750 V。其 RDS(ON) 為 26 mΩ,降低了 13%,從而略微減少了傳導(dǎo)損耗。

比較這兩種 SiC MOSFET 的損耗與原始 IGBT 的損耗,可以看出能效有所提高(圖 5)。


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圖 5:與原始 Si IGBT 和第三代器件相比,第四代 SiC MOSFET 大幅降低了損耗。(圖片來(lái)源:ROHM Semiconductor)


與第三代器件相比,第四代器件的傳導(dǎo)損耗(藍(lán)色)從 10.7 W 降至 9.82 W。開關(guān)損耗(橙色)降幅更為明顯,從 16.6 W 降至 8.22 W。

第四代器件的其他改進(jìn)還包括柵極驅(qū)動(dòng)能力的提高。第四代 SiC MOSFET 支持 15 V 驅(qū)動(dòng);第三代器件需要 18 V。這意味著設(shè)計(jì)使用硅器件的電路可以使用第四代 MOSFET 作為直接替代品。此外,對(duì)于第四代 SiC MOSFET,關(guān)斷期間的推薦驅(qū)動(dòng)電壓為 0 V。在第四代產(chǎn)品之前,柵極至源極電壓在關(guān)斷期間需要一個(gè)負(fù)偏置,以防止自導(dǎo)通。不過(guò),在第四代器件中,閾值電壓 (Vth) 設(shè)計(jì)較高,以抑制自導(dǎo)通,從而無(wú)需施加負(fù)偏置。

第四代解決方案

ROHM Semiconductor 的第四代 SiC MOSFET 解決方案根據(jù)器件封裝分為兩組。本文討論的 SCT4026DEC11 是一款 750 V、56 A (+25°C)/29 A (+100°C)、26 mΩ SiC MOSFET,采用三引線 TO-247N 封裝。替代四引線封裝方案的一個(gè)示例是 SCT4013DRC15,該器件是一款 750 V、105 A (+25°C)/74 A (+100°C) 的 13 mΩ 器件,采用四引線 TO-247-4L 封裝。

四引線封裝增加了一條引線,從而提高了 MOSFET 的開關(guān)速度。傳統(tǒng)的 TO-247N 三引線封裝無(wú)法將柵極驅(qū)動(dòng)與高漏極電流導(dǎo)致的寄生源極引線電感隔離開。柵極電壓施加在柵極和源極引腳之間。由于源極寄生電感 (VL) 上的壓降,芯片上的有效柵極電壓降低,導(dǎo)致開關(guān)速度降低(圖 6)。


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圖 6:TO-247-4L 上的第四個(gè)引腳利用開爾文連接中的額外連接引腳將柵極驅(qū)動(dòng)與電源引腳隔離。(圖片來(lái)源:ROHM Semiconductor)


四引腳 TO-247-4L 封裝將柵極驅(qū)動(dòng)和電源引腳分開,在內(nèi)部將柵極驅(qū)動(dòng)直接連接到源極。這樣可以最大限度地減少源極引腳寄生電感的影響。與傳統(tǒng)的三引腳 TO-247N 封裝相比,柵極驅(qū)動(dòng)直接接入內(nèi)部源極連接可最大限度地提高 SiC MOSFET 的開關(guān)速度,將總開關(guān)損耗(導(dǎo)通和關(guān)斷)降低達(dá) 35%。

第四代 SiC MOSFET 的第二個(gè)差異化規(guī)格是額定電壓。器件的額定電壓為 750 V 或 1200 V。前面討論的兩個(gè)器件的額定電壓為 750 V。對(duì)于更高的電壓應(yīng)用,SCT4062KEC11 是一款 1200 V、62 mΩ、26 A (+25°C)/18 A (+100°C) SiC N 溝道 MOSFET,采用三引線 TO-247N 封裝;而 SCT4036KRC15 是一款 1200 V、36 mΩ、43 A (+25°C)/30 A (+100°C) N 溝道 MOSFET,采用四引線 TO-247-4L 封裝。目前共有 10 款第四代 SiC MOSFET,在 +25°C 時(shí)的額定電流為 26 A 至 105 A。這些器件的 RDS(ON) 值從 13 到 62 mΩ 不等。

EV 應(yīng)用

第四代 SiC MOSFET 的規(guī)格非常適合電動(dòng)汽車應(yīng)用。例如電壓為 400 V 或 800 V 的電池電動(dòng)車 (BEV)(圖 7)。


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圖 7:第四代 SiC MOSFET 在 BEV 和相關(guān)外部配件中的典型應(yīng)用。(圖片來(lái)源:ROHM Semiconductor)


圖 7 所示為電池電壓為 400 V 或 800 V、支持雙向快充的 BEV 方框圖。車載充電器 (OBC) 包括圖騰柱功率因數(shù)校正電路 (PFC) 和雙向全橋 CLLC(電容器、電感器、電感器、電容器)諧振轉(zhuǎn)換器。外部“Quiq”直流充電器可直接為電池充電。電池驅(qū)動(dòng)牽引逆變器,逆變器將直流電轉(zhuǎn)換為三相交流電,從而驅(qū)動(dòng)電機(jī)。所有這些電路均在各種電路配置中采用了 MOSFET 來(lái)處理所需的功率水平。第四代 SiC MOSFET 的重要性在于,它們能減小電路物理尺寸,提高額定電壓,同時(shí)降低損耗和成本。

總結(jié)

對(duì)于電動(dòng)汽車、數(shù)據(jù)中心和基站等高電壓、大功率應(yīng)用的設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō),第四 SiC MOSFET 是關(guān)鍵性功率開關(guān)器件。如上所述,它們采用獨(dú)特的結(jié)構(gòu),能夠減少損耗從而大幅提高功率轉(zhuǎn)換效率,同時(shí)還可減少基底面并降低成本。


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