C2000系列芯片的內(nèi)置比較器主要可以分為如下兩類：

 

 

不管是以上哪種類型的比較器，其輸入正端都是直接連到ADC采樣口（這個(gè)口用來(lái)采樣需要監(jiān)控的信息比如電壓或電流），輸入負(fù)端則可以選擇連到內(nèi)部的DAC輸出或者另一個(gè)ADC采樣口。本文將以比較器負(fù)端連到內(nèi)部DAC輸出為例（這也是最常見(jiàn)的一種用法），介紹內(nèi)部比較器可能的誤差來(lái)源及其矯正方法。

 

誤差來(lái)源：

 

1. static offset error，靜態(tài)失調(diào)誤差。

2. 比較器滯環(huán)

3. ADC基準(zhǔn)和比較器內(nèi)部DAC基準(zhǔn)差異。

 

一、static offset error靜態(tài)失調(diào)誤差

 

現(xiàn)在假設(shè)我們希望的比較閾值為1.5V，當(dāng)比較器正端輸入電壓大于1.5V時(shí)，比較器輸出為1（高電平）；輸入電壓小于1.5V時(shí)，比較器輸出0（低電平）。如果內(nèi)部DAC的基準(zhǔn)為3V，那么我們需要把DACVAL設(shè)定為2048使得DAC輸出1.5V。在上面描述的這種情況下有兩個(gè)地方會(huì)引入誤差，一個(gè)是內(nèi)部DAC的誤差（offset error），另一個(gè)是比較器的誤差（input referred offset error），這兩個(gè)誤差總稱為static offset error，靜態(tài)失調(diào)誤差。

 

對(duì)于F28004x， F2807x，F(xiàn)2837x系列芯片，其規(guī)格書上都有static offset error這個(gè)參數(shù)，為±25mV。也就是說(shuō)，雖然理論上DACVAL=2048可以得到1.5V的閾值，但是因?yàn)閟tatic offset error，比較器發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí)負(fù)端的電壓可能在1.475V到1.525V之間，而這個(gè)值是多少你并不知道，所以就需要校準(zhǔn)。校準(zhǔn)方法就是，在比較器正端接上一個(gè)你需要的閾值電平，在關(guān)掉內(nèi)部比較器滯環(huán)的條件下，讓比較器的DACVAL從0逐漸增大到4095，再逐漸減小到0，這樣比較器輸出會(huì)有兩次翻轉(zhuǎn)，將這兩次翻轉(zhuǎn)時(shí)的DACVAL的值作平均，就是校正后的閾值電壓對(duì)應(yīng)的DACVAL的值。

 

如果不用內(nèi)部的DAC生成比較閾值，比較器的正端和負(fù)端都接外部信號(hào)的話，那么就只需要考慮比較器的誤差了。

 

二、比較器滯環(huán)

 

C2000比較器的滯環(huán)是可以設(shè)定的，COMPHYSCTL的COMPHYS位可以設(shè)定滯環(huán)的環(huán)寬，當(dāng)環(huán)寬設(shè)定為0時(shí)也就意味著沒(méi)有滯環(huán)。注意在規(guī)格書中，滯環(huán)的單位是LSB，所以它和CMPSS模塊內(nèi)部的DAC的參考有關(guān)。如果內(nèi)部DAC的參考電壓是3V，1LSB對(duì)應(yīng)3V/4096=0.7mV。以F28004x，F(xiàn)2807x， F2837x為例，其滯環(huán)可以在12LSB, 24LSB, 36LSB, 48LSB中選擇。

 

需要指出的是，加入滯環(huán)后，比較器從0翻轉(zhuǎn)到1的閾值依然是之前校準(zhǔn)過(guò)的值，而不會(huì)變成（校準(zhǔn)過(guò)的值+1/2*滯環(huán)寬度），而從1翻轉(zhuǎn)回0的閾值則會(huì)變成（校準(zhǔn)過(guò)的值-滯環(huán)寬度），如下圖所示：

 

 

三、ADC基準(zhǔn)和比較器內(nèi)部DAC基準(zhǔn)的差異

 

在實(shí)際系統(tǒng)中，除了用比較器做硬件保護(hù)，通過(guò)AD采樣來(lái)做軟件保護(hù)也很常見(jiàn)。對(duì)于同一個(gè)電壓或者電流信號(hào)，在考慮了前述靜態(tài)失調(diào)誤差和滯環(huán)后，有時(shí)候我們會(huì)發(fā)現(xiàn)ADC采樣得到的值根本沒(méi)到比較器DAC輸出的閾值，但是比較器依然翻轉(zhuǎn)了，這其中甚至?xí)畹?00個(gè)LSB。這是因?yàn)樾酒珹DC的基準(zhǔn)電壓和比較器內(nèi)部DAC的基準(zhǔn)電壓不同導(dǎo)致的。

 

以F28004x，F(xiàn)2807x， F2837x為例，比較器內(nèi)部DAC的基準(zhǔn)默認(rèn)來(lái)自于VDDA，可以配置成VDAC，而ADC的基準(zhǔn)來(lái)自于VREFHI，VDDA默認(rèn)供電是3V，而我們常用的內(nèi)部ADC基準(zhǔn)VREFHI是3.3V，這樣，如果我們的比較器DACVAL設(shè)定為2048，那么比較器會(huì)在1.5V翻轉(zhuǎn)，而此時(shí)ADC采樣的值只有1.5V/3.3V*4096=1862。這就是因?yàn)锳DC基準(zhǔn)和比較器內(nèi)部DAC基準(zhǔn)的不同帶來(lái)的差異，對(duì)于既需要做硬件保護(hù)，又需要做軟件保護(hù)的信號(hào)，這一點(diǎn)需要特別注意。最簡(jiǎn)便的解決辦法就是，將比較器內(nèi)部的DAC基準(zhǔn)配置為VDAC，同時(shí)將VDAC連到VREFHI上，使得兩者的基準(zhǔn)一致。

 

結(jié)論

 

本文以F28004x，F(xiàn)2807x，F(xiàn)2837x芯片為例，介紹了內(nèi)置比較器的誤差來(lái)源及校正方法，同時(shí)糾正了比較器滯環(huán)的錯(cuò)誤理解。對(duì)于同一個(gè)信號(hào)既需要軟件保護(hù)又需要硬件保護(hù)的系統(tǒng)，我們指出了導(dǎo)致軟硬件保護(hù)閾值可能出現(xiàn)偏差的原因，同時(shí)給出了解決辦法。正確使用C2000芯片內(nèi)部比較器可以實(shí)現(xiàn)快速軟硬件保護(hù)，提高系統(tǒng)整體可靠性，同時(shí)無(wú)需外部基準(zhǔn)和比較器，節(jié)省PCB空間，是一個(gè)非常實(shí)用的模塊。

 

 

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