1.VCO在接收中的應(yīng)用
VCO在系統(tǒng)中的位置如圖1所示,它屬于環(huán)路部分,前級為環(huán)路濾波器,后級為多模分頻器和可編程分頻器。
環(huán)路濾波器將PFD(鑒相鑒頻器)和CP(電荷泵)產(chǎn)生的控制電壓經(jīng)過濾波之后提供給VCO。VCO根據(jù)控制電壓(Vcon)和控制字(由I2C控制)產(chǎn)生相應(yīng)頻率的振蕩信號,此振蕩信號通過多模分頻器器之后作為頻率源提供給本地振蕩器(LO),同時(shí)也通過可編程分頻器反饋給PFD和CP。VCO輸出的振蕩信號的頻率為PLL輸入信號(PFD/CP的輸入)頻率的N倍(N為可編程分頻器的分頻比),即fout=Nfin。
2.電路設(shè)計(jì)
圖2所示為VCO的總電路圖,采用經(jīng)典的互補(bǔ)型差分耦合壓控振蕩器結(jié)構(gòu),并將尾電流去掉,使相位噪聲性能得到明顯提高。M1和M2為NMOS差分耦合對,M3和M4為PMOS差分耦合對,采用互補(bǔ)型的差分耦合對更容易起振,具有功耗和振幅的優(yōu)勢,相位噪聲也較?。婚_關(guān)電容陣列(SCA)用來拓寬頻率調(diào)諧范圍而又不使壓控增益過大;SCA由控制字來控制,對諧振腔中的電容進(jìn)行粗調(diào)??勺冸娙萦脕碓诿恳粋€(gè)控制字下對諧振腔中的電容進(jìn)行細(xì)調(diào)。L即為諧振腔中的電感。緩沖電路用來將VCO的輸出信號進(jìn)行進(jìn)一步放大,以提高其驅(qū)動后級的能力,同時(shí)也將VCO和它的后級電路隔離開來,避免VCO的振蕩頻率和相位噪聲性能受后級電路的影響。
圖2是互補(bǔ)型LC交叉耦合振蕩器,該結(jié)構(gòu)同時(shí)采用NMOS和PMOS兩對差分耦合放大器提供負(fù)阻補(bǔ)償諧振電路損耗的能量。對于相同的偏置電流和MOS管尺寸,互補(bǔ)型結(jié)構(gòu)提供的負(fù)阻是單對MOS管結(jié)構(gòu)的兩倍,電路起振更容易。由于NMOS對管和PMOS對管分別給對方提供電流,電流可以復(fù)用,增大振蕩器輸出信號擺幅,并且通過優(yōu)化器件參數(shù)使兩輸出端與中間電路節(jié)點(diǎn)上的輸出電壓波形對稱,從而盡可能地減小振蕩器的相位噪聲。
互補(bǔ)型LC交叉耦合振蕩器在輸出信號幅度、功耗以及相位噪聲等方面具有明顯的優(yōu)勢。
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2.2 可變電容
本電路采用的是積累型MOS可變電容,屬于有源器件,使用時(shí)需加偏置電路。圖3所示為可變電容的電路圖,R1、R2、R3和R4為可變電容的管子提供偏置。C1和C2為隔直電容,使可變電容的偏置電路獨(dú)立于其它電路,互不影響。Vcon為控制電壓,是環(huán)路濾波器的輸出,用來控制可變電容的電容值。
2.3 開關(guān)電容陣列(SCA)
圖4所示為開關(guān)電容陣列的電路,有四個(gè)控制字D0、D1、D2和D3,可以有16種組合。CF為濾波電容。圖5所示為開關(guān)電容陣列中所使用的MOS開關(guān)管,在控制字端和源(漏)端之間加入反相器,數(shù)?;旌?,使MOS開關(guān)管的源(漏)極的電壓有確定值(低或高)且始終大于等于0,使得開關(guān)管電路對噪聲不敏感。
圖6所示為緩沖電路,由一個(gè)反相器和一個(gè)推挽放大器組成,采用兩級電路之后具有高隔離度。其中Rb1和Rb2是偏置電阻;Rf是反饋電阻,可使電路更穩(wěn)定;Cd0、Cd1和Cd2是隔直電阻,使各電路的偏置相互獨(dú)立,互不影響。
3.仿真結(jié)果
3.1 工作電流
圖7所示為仿真得到的工作電流,平均值為4.75mA,如果除去起振時(shí)候的過沖電流的話,基本上可以達(dá)到4mA。表2對各個(gè)工藝角下的工作電流做了對比,可以看出工作電流最壞情況下為5mA左右,功耗符合設(shè)計(jì)要求。
圖8所示為瞬態(tài)仿真的結(jié)果。在起始條件中設(shè)置一個(gè)500mV的電壓之后,VCO能夠快速起振,振蕩曲線和振蕩頻率正常,實(shí)現(xiàn)VCO的基本功能。其它工藝角下結(jié)果類似。
圖9所示為TT工藝角下的壓控特性曲圍為2.5G~3.1G,在實(shí)現(xiàn)寬調(diào)諧范圍的同時(shí)又保持了較低的壓控增益??刂谱譃?110時(shí)壓控增益較低,平均值為60MHz/V左右。其它工藝角下結(jié)果類似。
3.4 相位噪聲
圖10為在0000控制字下仿真得到的相位噪聲曲線,對不同工藝腳分析相位噪聲,可看出相位噪聲隨著控制字的增加而減小,因此在對TT工藝角的所有控制字進(jìn)行相位噪聲仿真之后,只需對FF和SS工藝角的第一個(gè)控制字和最后一個(gè)控制字以及中間的一部分控制字的相位噪聲進(jìn)行仿真,便可知所有控制字下的相位噪聲性能。在頻偏為1MHz時(shí)相位噪聲基本分布在-118dBc/Hz~-122dBc/Hz,基本滿足低相位噪聲的要求。
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