是德科技邊界掃描分析儀具備更強(qiáng)大的測試效率、覆蓋范圍和吞吐量
發(fā)布時間:2015-05-15 責(zé)任編輯:susan
【導(dǎo)讀】2015 年 5 月15 日,是德科技公司日前宣布,Solution Sources Programming Inc.(SSP)邊界掃描分析儀Keysight x1149與Keysight i3070 的配套使用,使其在邊界掃描測試上有所突破。SSP 是一家全面測試與測量解決方案的供應(yīng)商。
SSP 共同創(chuàng)辦人兼高級工程經(jīng)理 Eric Harris 表示:“如今先進(jìn)的測試技術(shù)使傳統(tǒng)在線測試(ICT)的應(yīng)用范圍更為縮減。許多客戶堅信如果電路板接入率降至 50 % 以下,就需要尋找其他在線測試方法。借助現(xiàn)代平臺和夾具技術(shù),我們可以為客戶提供始終如一的支持,幫助他們挽回失去的測試覆蓋范圍,并最終為他們的合同制造商與合作伙伴提供所需的故障診斷服務(wù),以確保他們的生產(chǎn)線上不存在制造缺陷。只要搭配合適的工具,一切都會變得簡單。”
11 個 SSP 重點項目均采用了 Keysight x1149 解決方案。解決方案覆蓋了低接入率和零接入率電路板,以及由 50,000 個結(jié)點和超過 9,250 個網(wǎng)格組成的復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)電路板。
高密度網(wǎng)絡(luò)電路板在應(yīng)用傳統(tǒng)在線測試技術(shù)時面臨許多問題。譬如,沒有給最佳測試點提供足夠的物理空間、高速信號傳輸和信號完整性問題,以及單個電路板上有時存在多個邊界掃描鏈。外形小巧的是德科技臺式 x1149 可以輕松地與在線測試系統(tǒng)匹配,它不僅支持功能強(qiáng)大的測試功能組合,具有易用性并且已經(jīng)為產(chǎn)品制造做好準(zhǔn)備。x1149 憑借獨有的 Autobank 故障診斷功能還能夠加快測試速度。
Harris 補充道:“x1149 和 i3070 的結(jié)合給我們帶來了顯著的成果。比如有的客戶的裝配線上有超過 90 個 DDR,使用傳統(tǒng)在線測試方法則會因為測試時間過長而無法進(jìn)行。而我們的團(tuán)隊不僅能夠順利完成這些 DDR 在線測試,并且測試時間還不到 60 秒。但傳統(tǒng)方法則要花費超過五分鐘時間。”
除此之外,具有有限測試接入或零測試接入的電路板也能應(yīng)用這類工具進(jìn)行測試,譬如平板電腦或智能手機(jī)。是德科技提供獨家的覆蓋擴(kuò)展技術(shù) (CET)及其功能強(qiáng)大的硅釘 (Silicon Nails) 邊界掃描功能,這有助于擴(kuò)大在電路板主要區(qū)域的測試覆蓋范圍。
SSP 總裁兼共同創(chuàng)辦人 Dan Orlando 表示:“我們的電路板有低于 25% 的接入率。通過整合在線測試和 x1149,我們已經(jīng)把測試覆蓋范圍恢復(fù)到了 90%。我們的專業(yè)技術(shù)和工具(例如 x1149)已經(jīng)使得測試覆蓋范圍得到極大改善,并且擴(kuò)展了全部測試領(lǐng)域中的測試功能——包括平板電腦、SSD 固態(tài)硬盤和服務(wù)器以及網(wǎng)絡(luò) PCBA 等。”
Orlando 補充道:“隨著電路板設(shè)計的復(fù)雜程度加深,SSP 繼續(xù)埋首創(chuàng)新,旨在讓客戶在 Keysight x1149 平臺上更好地運用豐富的邊界掃描技術(shù)。x1149 專為制造測試而設(shè)計。它的圖形用戶界面一目了然且操作簡單,可以讓我們的團(tuán)隊迅速進(jìn)行測試開發(fā)和調(diào)試,并在客戶生產(chǎn)線上快速實施電路板測試。不斷推陳出新的工程設(shè)計每一次都在挑戰(zhàn)傳統(tǒng)的生產(chǎn)測試?yán)砟?,讓我們感到驕傲的是,我們制定的生產(chǎn)計劃不僅對客戶的合同制造商有所幫助,而且還能及早查到生產(chǎn)線上的故障,最終保護(hù)他們的品牌資產(chǎn)。”
是德科技產(chǎn)品開發(fā)團(tuán)隊不斷改進(jìn) x1149 的測試應(yīng)用功能,并與電子行業(yè)領(lǐng)先企業(yè)密切合作,通過開發(fā)創(chuàng)新的邊界掃描解決方案來增強(qiáng)產(chǎn)品質(zhì)量。
是德科技測量系統(tǒng)事業(yè)部市場營銷和支持總監(jiān) NK Chari 稱:“SSP 將其專業(yè)的測試開發(fā)技術(shù)與 x1149 的擴(kuò)展邊界掃描測試功能結(jié)合在一起,可使測試覆蓋范圍達(dá)到更高的水平。另外,當(dāng)前高度復(fù)雜的 PCBA 所需的測試時間也在大為縮減,包括網(wǎng)絡(luò)和服務(wù)器卡、平板電腦和智能手機(jī)等消費類電子產(chǎn)品中的 PCBA。我們?yōu)榭蛻籼峁╇S時可用的應(yīng)用,期待幫助他們更好地進(jìn)行邊界掃描測試。”
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