你的位置:首頁 > 測(cè)試測(cè)量 > 正文
Mentor Graphics分享汽車如何推動(dòng)新的可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)
發(fā)布時(shí)間:2014-05-21 來源:Mentor Graphics 責(zé)任編輯:xueqi
【導(dǎo)讀】想知道有幾哪種芯片測(cè)試方法嗎?混合測(cè)試法又有哪些優(yōu)點(diǎn)?請(qǐng)看本文Mentor Graphics 近日發(fā)布一份題為《汽車如何推動(dòng)新的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)技術(shù)》的研究報(bào)告。
《汽車如何推動(dòng)新的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)技術(shù)》的中文版研究報(bào)告全文可在 Mentor Graphics 的官方網(wǎng)站閱讀和下載: http://mentorg.com.cn/aboutus/view.php?id=256 。
背景介紹
隨著人們對(duì)安全關(guān)鍵應(yīng)用設(shè)備,尤其是汽車 IC(集成電路),提出了新的需求,DFT(可測(cè)性設(shè)計(jì))技術(shù)又再次受到重視。越來越多的處理器被運(yùn)用于汽車的剎車系統(tǒng)、發(fā)動(dòng)機(jī)控制、平視顯示器、導(dǎo)航系統(tǒng)和圖像傳感器等等。這些芯片必須滿足非常高的質(zhì)量和可靠性標(biāo)準(zhǔn),所以芯片制造商也必須進(jìn)行高水平的生產(chǎn)測(cè)試和系統(tǒng)內(nèi)部測(cè)試。不僅如此,他們還必須在盡可能提升測(cè)試水平的同時(shí),確保測(cè)試時(shí)間和成本不會(huì)增加。
全文要點(diǎn)與大綱如下:
●幾種芯片測(cè)試方法
如今有兩種測(cè)試方法被眾多安全關(guān)鍵設(shè)備開發(fā)商迅速采納 -- 單元識(shí)別 (Cell-Aware) 自動(dòng)測(cè)試向量生成 (ATPG) 法和 ATPG/邏輯內(nèi)建自測(cè)試 (LBIST) 綜合運(yùn)用法。單元識(shí)別測(cè)試法可實(shí)現(xiàn)每百萬缺陷數(shù) (DPM) 為零的目標(biāo)。綜合測(cè)試法則通過將ATPG和LBIST 邏輯電路測(cè)試法相結(jié)合來提高測(cè)試質(zhì)量和效率。
事實(shí)證明,單元識(shí)別 ATPG 測(cè)試法是唯一可以發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)方法檢測(cè)不出的缺陷的方法。它可以發(fā)現(xiàn)一套完整的針對(duì)固定故障、節(jié)點(diǎn)跳變和時(shí)延缺陷的測(cè)試方法發(fā)現(xiàn)不了的缺陷,因?yàn)檫@種方法首先就對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行物理布局時(shí)可能出現(xiàn)的實(shí)際缺陷進(jìn)行模擬。在新技術(shù)的改進(jìn)下,單元識(shí)別測(cè)試法中的測(cè)試向量大小得以縮小,但整個(gè)測(cè)試向量仍大于傳統(tǒng)的測(cè)試方法產(chǎn)生的測(cè)試向量,因此要進(jìn)行嵌入式壓縮。許多公司因?yàn)椴捎脝卧R(shí)別測(cè)試法而收效顯著。部分成效的概述請(qǐng)見圖1。
圖1:截至2013年12月來自使用單元識(shí)別測(cè)試法的公司的硅結(jié)果。安森美半導(dǎo)體 (On Semiconductor) 結(jié)果在2013年 ETS 上進(jìn)行了發(fā)布;AMD 結(jié)果在2012年 ITS 上進(jìn)行了發(fā)布。
越來越多的客戶在設(shè)計(jì)相同的電路時(shí)同時(shí)采用嵌入式壓縮和 LBIST 測(cè)試法。由于這兩種技術(shù)能夠以類似的方式運(yùn)用掃描鏈,因此可以將兩者整合成可共享的統(tǒng)一邏輯,從而幫助客戶更有效地運(yùn)用這種方法。綜合測(cè)試邏輯架構(gòu)請(qǐng)見圖2。
圖2:混合壓縮邏輯架構(gòu)和邏輯內(nèi)建自測(cè)試共享大部分解壓?jiǎn)卧?LFSR 和壓縮單元/MSIR 邏輯。
嵌入式壓縮解壓?jiǎn)卧谠O(shè)計(jì)上也可整合進(jìn)線性反饋移位寄存器 (LFSR),為邏輯內(nèi)建自測(cè)試帶來偽隨機(jī)模式。邏輯內(nèi)建自測(cè)試和嵌入式壓縮邏輯都可通過相移位器為掃描鏈提供數(shù)據(jù),這樣邏輯得以完全共享。掃描鏈結(jié)果通過嵌入式壓縮擠壓到一起。該邏輯主要與邏輯內(nèi)建自測(cè)試混合使用,減少進(jìn)入一個(gè)簽名計(jì)算器的掃描鏈結(jié)果數(shù)量。與單獨(dú)進(jìn)行嵌入式壓縮和邏輯內(nèi)建自測(cè)試相比,該共享邏輯可讓控制器尺寸縮小20%至30%。
●混合測(cè)試法的優(yōu)點(diǎn)
混合使用嵌入式壓縮和邏輯內(nèi)建自測(cè)試的一大好處便是雙方互補(bǔ)。例如,嵌入式壓縮可實(shí)現(xiàn)非常高品質(zhì)的生產(chǎn)測(cè)試。這意味著您需要較少的邏輯內(nèi)建自測(cè)試點(diǎn)就可以提高隨機(jī)抵抗性邏輯的可測(cè)性,這可縮小邏輯內(nèi)建自測(cè)試點(diǎn)的面積。相反地,X-bounding 以及任何為邏輯內(nèi)建自測(cè)試增加的測(cè)試點(diǎn)都可提高電路的可測(cè)性,并改善嵌入式壓縮覆蓋和模式計(jì)數(shù)結(jié)果。
汽車電子是半導(dǎo)體行業(yè)增長(zhǎng)最迅速的領(lǐng)域之一,這些安全關(guān)鍵型設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)正推動(dòng)新DFT技術(shù)的出現(xiàn)。嵌入式壓縮的發(fā)明是重要的測(cè)試進(jìn)步。
報(bào)告作者簡(jiǎn)介
Ron Press 是明導(dǎo)硅測(cè)試解決方案產(chǎn)品的技術(shù)營(yíng)銷經(jīng)理。他在測(cè)試和 DFT(可測(cè)性設(shè)計(jì))行業(yè)有著25年的經(jīng)驗(yàn),曾多次出席全球各地的 DFT 和測(cè)試研討會(huì)。他發(fā)表了數(shù)十篇與測(cè)試相關(guān)的論文,是國(guó)際測(cè)試會(huì)議 (ITC) 指導(dǎo)委員會(huì)的成員、IEEE 計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì) (IEEE Computer Society) 的 Golden Core 成員以及 IEEE 的高級(jí)會(huì)員。Press 擁有多項(xiàng)減少引腳數(shù)測(cè)試和無毛刺的自由時(shí)鐘切換的專利,并正在申請(qǐng)3D DFT 專利。
特別推薦
- 兆易創(chuàng)新GD32F30x STL軟件測(cè)試庫獲得德國(guó)萊茵TüV IEC 61508功能安全認(rèn)證
- 芯科科技第三代無線開發(fā)平臺(tái)引領(lǐng)物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展
- MSO 4B 示波器為工程師帶來更多臺(tái)式功率分析工具
- 艾為電子推出新一代高線性度GNSS低噪聲放大器——AW15745DNR
- 瑞薩發(fā)布四通道主站IC和傳感器信號(hào)調(diào)節(jié)器, 以推動(dòng)不斷增長(zhǎng)的IO-Link市場(chǎng)
- e絡(luò)盟現(xiàn)貨供應(yīng) Abracon 新推出的 AOTA 系列微型鑄型電感器
- 加賀富儀艾電子推出支持Wi-Fi 6和藍(lán)牙的無線局域網(wǎng)/藍(lán)牙組合模塊
技術(shù)文章更多>>
- 一文掌握UV LED在空凈消殺領(lǐng)域的主要應(yīng)用
- 聚焦汽車智能化與電動(dòng)化︱AUTO TECH 2025 華南展11月,已全面啟動(dòng),邀您共精彩!
- 【“源”察秋毫系列】 Keithley在碳納米管森林涂層纖維復(fù)合材料的應(yīng)用
- 數(shù)字驅(qū)動(dòng)工業(yè),智能賦能制造 AMTS & AHTE SOUTH CHINA 2024同期會(huì)議全公開!
- 團(tuán)體觀展招募!104CEF開啟組團(tuán)觀眾通道,解鎖更多禮遇
技術(shù)白皮書下載更多>>
- 車規(guī)與基于V2X的車輛協(xié)同主動(dòng)避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索