11月16日，高交會(huì)電子展系列活動(dòng)——由創(chuàng)意時(shí)代會(huì)展主辦的第六屆國(guó)際被動(dòng)元件技術(shù)與市場(chǎng)發(fā)展論壇（PCF2011）在深圳隆重召開(kāi)。作為中國(guó)唯一專注被動(dòng)元件、匯聚從材料到應(yīng)用整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈的高端論壇，PCF2011吸引了包括村田、太陽(yáng)誘電、TDK、巴斯夫、順絡(luò)電子、檳城電子、晶焱科技、大毅科技等在內(nèi)的眾多國(guó)內(nèi)外知名電子元件廠商，以及中國(guó)電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)副理事長(zhǎng)兼秘書長(zhǎng)溫學(xué)禮、工信部電子五所賽寶質(zhì)量安全檢測(cè)中心副主任朱文立、北京郵電大學(xué)電子工程學(xué)院執(zhí)行院長(zhǎng)劉元安、哈爾濱工業(yè)大學(xué)深圳研究生院和軍平教授等業(yè)內(nèi)專家一同就電子元件市場(chǎng)升級(jí)轉(zhuǎn)型、電磁兼容與電路保護(hù)等話題，與來(lái)自電子行業(yè)的近千名專業(yè)聽(tīng)眾進(jìn)行了深入探討。

電子元件技術(shù)升級(jí)，智能終端與智能家居成轉(zhuǎn)型重點(diǎn)

據(jù)中電元協(xié)對(duì)電子元件行業(yè)重點(diǎn)企業(yè)調(diào)查顯示，2011年1-8月，中國(guó)電子元件市場(chǎng)同比上漲20.17%，據(jù)估算，今年前三季度銷售收入總額已超過(guò)1萬(wàn)億元；但在銷售收入總額快速增長(zhǎng)同時(shí)，同期企業(yè)利潤(rùn)總額同比僅增長(zhǎng)了2.29%。溫學(xué)禮秘書長(zhǎng)在PCF2011上表示，雖然扭轉(zhuǎn)了前幾個(gè)月來(lái)行業(yè)利潤(rùn)總額下滑的狀況，但盈利情況依然不容樂(lè)觀，電子元件企業(yè)必須借助新一代信息技術(shù)發(fā)展及市場(chǎng)變化帶來(lái)的機(jī)遇，如智能終端、智能家居、物聯(lián)網(wǎng)等市場(chǎng)的革新，進(jìn)行新一輪的轉(zhuǎn)型升級(jí)。

在溫學(xué)禮秘書長(zhǎng)提到的智能家居、智能終端等熱點(diǎn)市場(chǎng)中，村田、太陽(yáng)誘電等國(guó)際領(lǐng)先廠商再一次走在前列。在PCF2011上，村田制作所與太陽(yáng)誘電分別帶來(lái)了各自在智能家居、智能終端中的電子元件解決方案。智能家居系統(tǒng)中，家庭網(wǎng)關(guān)，傳感器和通訊模塊是實(shí)現(xiàn)家電智能控制的關(guān)鍵部件，村田可以提供包括網(wǎng)管、傳感器、通訊模塊以及軟件等智能家居全套解決方案。村田制作所高級(jí)工程師蔣頤介紹，村田的傳感器技術(shù)種類繁多，與村田通訊模塊向結(jié)合后，可以搭建無(wú)線傳感網(wǎng)絡(luò)來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)家用電器的遠(yuǎn)程控制和狀態(tài)識(shí)別等。太陽(yáng)誘電設(shè)計(jì)部經(jīng)理今泉達(dá)則帶來(lái)了智能手機(jī)的前端解決方案，據(jù)介紹，太陽(yáng)誘電已經(jīng)成功實(shí)現(xiàn)GaAs天線開(kāi)關(guān)基板內(nèi)置化，名為 “EOMIN ®”的產(chǎn)品克服了以前不可能在智能手機(jī)和平板電腦等移動(dòng)設(shè)備內(nèi)置GaAs天線開(kāi)關(guān)安裝高頻電路的難題，并已在日本手機(jī)企業(yè)中得到了應(yīng)用。
在上午的演講中，羰基鐵粉的發(fā)明者巴斯夫也派出了他們的產(chǎn)品經(jīng)理 Dr. o . Koch為大家講述羰基鐵粉的特性及其優(yōu)勢(shì)。據(jù)介紹，巴斯夫用羰基分解法來(lái)生產(chǎn)羰基鐵粉已經(jīng)有90年，從1935年起，巴斯夫的羰基鐵粉已經(jīng)應(yīng)用于電子產(chǎn)品中的電感上。它獨(dú)特的微觀結(jié)構(gòu)和獨(dú)一無(wú)二的純度使它有了出眾的磁性特征。[page]

電磁兼容與電路保護(hù)成產(chǎn)品上市關(guān)鍵

在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)過(guò)程中，電磁兼容與電路保護(hù)的環(huán)節(jié)非常關(guān)鍵，直接關(guān)系到產(chǎn)品能否上市。而隨著更多功能被集成進(jìn)電子產(chǎn)品，以及數(shù)據(jù)傳輸速度的飛升、小型化進(jìn)程加速，越來(lái)越多的產(chǎn)品面臨著電磁兼容與電路保護(hù)方面的挑戰(zhàn)。針對(duì)這一狀況，PCF2011特別增設(shè)了電磁兼容與電路保護(hù)這兩個(gè)分論壇，邀請(qǐng)了工信部電子五所賽寶質(zhì)量安全檢測(cè)中心副主任朱文立、北京郵電大學(xué)電子工程學(xué)院執(zhí)行院長(zhǎng)劉元安、哈爾濱工業(yè)大學(xué)深圳研究生院和軍平教授等業(yè)內(nèi)知名專家，就電路保護(hù)和電磁兼容的技術(shù)的關(guān)鍵問(wèn)題與大家進(jìn)行了分享。

朱文立介紹，電子電器產(chǎn)品在進(jìn)行電磁兼容認(rèn)證或測(cè)試時(shí)出現(xiàn)電磁兼容問(wèn)題時(shí)難免的，解決這一問(wèn)題需要從電磁干擾常見(jiàn)問(wèn)題、產(chǎn)品構(gòu)成和內(nèi)部結(jié)構(gòu)、產(chǎn)品測(cè)試的不合格曲線等幾個(gè)方面分析。掌握基本的一些思路之后，定位電磁兼容問(wèn)題故障就會(huì)比較簡(jiǎn)單，整改也能更順利完成，從而加快產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型或認(rèn)證上市的進(jìn)度。

除了設(shè)計(jì)改進(jìn)，關(guān)鍵電子元件的技術(shù)與性能提升也是解決電磁兼容問(wèn)題的關(guān)鍵。和軍平教授表示，針對(duì)電磁兼容法規(guī)日益嚴(yán)格、電氣電子產(chǎn)品體積不斷縮小的壓力，新型高效能、小體積的EMI抑制器件將逐步成為發(fā)展趨勢(shì)，集成濾波器等新型器件、以及其它抑制器件面臨這廣袤的發(fā)展機(jī)遇。

檳城電子FAE經(jīng)理雷斌也表示，長(zhǎng)期以來(lái)，被動(dòng)組件在電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)中除了扮演電路性能需要的組件外，也大量被用來(lái)當(dāng)保護(hù)組件使用，包括提供對(duì)靜電放電的防護(hù)功能。而隨著電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)日新月異，功能越來(lái)越復(fù)雜、體積越來(lái)越輕薄短小、越來(lái)越省電、及越來(lái)越被要求高可靠度，靜電放電防護(hù)設(shè)計(jì)就變得越來(lái)越關(guān)鍵與重要，這也造成對(duì)被動(dòng)組件的特性要求產(chǎn)生革命性的變化。必須針對(duì)被動(dòng)組件的規(guī)格進(jìn)行調(diào)整才會(huì)對(duì)現(xiàn)今的電子產(chǎn)品有良好的靜電放電防護(hù)功能。

瞬態(tài)過(guò)壓及持續(xù)過(guò)流是電路防護(hù)的兩大議題，其中又以雷擊防護(hù)為設(shè)計(jì)的難點(diǎn)，尤其是當(dāng)設(shè)備的應(yīng)用條件存在諸多相互制約的因素時(shí)（如輸入寬壓與低雷擊殘壓，高通流與小尺寸，高溫度與長(zhǎng)壽命等），傳統(tǒng)的防護(hù)方案往往難以同時(shí)滿足諸多相互制約的要求，對(duì)此愛(ài)普科斯資深工程師盛松濤則帶來(lái)了他們針對(duì)各種不同場(chǎng)合不同產(chǎn)品的新型設(shè)計(jì)思路。

大毅科技協(xié)理蕭宇廷介紹，今日之傳輸系統(tǒng), 在實(shí)驗(yàn)室階段有非常長(zhǎng)高之吞吐量，穩(wěn)定度非常高.，但是一到實(shí)測(cè)(Field Try)階段，就需排除一些干擾、機(jī)構(gòu)、噪聲、ESD等相關(guān)機(jī)構(gòu)所構(gòu)成的隱性因子。就高速網(wǎng)絡(luò)而言列如USB 3.0, 其吞吐量已達(dá)5Gbps, 在布線技巧方面更須面面俱到, 尤其是面對(duì)ESD方面之布線更須小心, 因?yàn)榧尤肴我唤M件均會(huì)影響到實(shí)際之線路阻抗值(Impedance), 進(jìn)而影響到實(shí)際之傳輸速率。因此，在選擇ESD相關(guān)器件時(shí)必須考慮更多因素。

此外，針對(duì)手機(jī)、智能終端接收靈敏度，村田EMI產(chǎn)品主管 范為俊介紹了村田手機(jī)用最新的EMI產(chǎn)品、 手機(jī)接收靈敏度改善的EMI解決方案等。劉元安院長(zhǎng)也介紹了無(wú)線通信電磁頻譜與電磁干擾相關(guān)技術(shù)。上海云鵲電子科技還在現(xiàn)場(chǎng)展出了他們的電磁兼容性測(cè)試儀器。