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解決電磁干擾(EMI)的若干方法

發(fā)布時間:2012-11-23 責(zé)任編輯:simonyang

【導(dǎo)讀】電磁干擾普遍存在于電子產(chǎn)品,不僅是設(shè)備之間的相互影響,同時也存在于元件于元件之間,系統(tǒng)與系統(tǒng)之間,其主要的兩種途徑為傳導(dǎo)干擾和輻射干擾,而傳導(dǎo)干擾又細(xì)分為共模干擾差模干擾。引起干擾的原因種類復(fù)雜,其核心為靜電放電干擾。

第一步,深入理解干擾的本質(zhì)

靜電,它的解釋是:一種處于靜止?fàn)顟B(tài)的電荷,其對電路的危害為零。真正對電子電路有危害的是靜電放電。在設(shè)計的時候電子工程師需要考慮的不是靜電問題,而是靜電在什么環(huán)境什么時間下會進(jìn)行放電動作,以及如何對放電動作實施防護(hù)措施。

第二步,分析產(chǎn)生干擾的原因

事出必有因,電子電路產(chǎn)生靜電干擾一般有兩種情況:

1、電子電路的分布參數(shù)設(shè)計不合理

2、環(huán)境、濕度等因素降低了電子電路的穩(wěn)定性,使其發(fā)生干擾現(xiàn)象

在分析產(chǎn)生干擾原因的時候需要結(jié)合工作的環(huán)境因素,而且在絕大部分發(fā)生靜電干擾的設(shè)備中,環(huán)境、濕度等因素占了主導(dǎo)地位,由于構(gòu)成干擾的因素種類繁多,其分析較為復(fù)雜,但這是設(shè)計的必經(jīng)之路。 
 
第三步,測量與對策

1、傳導(dǎo)干擾的測量原理



如圖所示,其中CI為共模干擾、DI為差模干擾、V1 = CI  DI 、V2 = CI + DI 、V3 = DI ,R1、R2、R3、R4為接地電阻,C1為分布電容。

降低傳導(dǎo)干擾的三大對策:

1、盡量減少每個回路的有效面積

2、對于變壓器漏感干擾,一方面是對變壓器進(jìn)行磁屏蔽,另一方面是盡量減少每個電流回路的有效面積。

3、對于干擾比較嚴(yán)重或比較容易被干擾的電路,盡量采用雙線傳輸信號,不要利用公共地來傳輸信號,公共地電流越小干擾越小。

2、輻射干擾的測量原理


 

其中C1、C2為分布電容,V1為頻譜儀或其它儀表。

降低輻射干擾的三大對策:

1、一個是屏蔽,另一個是減小各個電流回路的面積(磁場干擾),和帶電導(dǎo)體的面積及長度(電場干擾)。

2、當(dāng)載流體的長度正好等于干擾信號四分之一波長的整數(shù)倍的時候,干擾信號會在電路中產(chǎn)生諧振,這時輻射干擾最強(qiáng),這種情況應(yīng)盡量避免。

3、磁場輻射干擾主要是流過高頻電流回路產(chǎn)生的磁通竄到接收回路中產(chǎn)生的,因此,要盡量減小流過高頻電流回路的面積和接收回路的面積。
 

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