熱插拔電路使用一個(gè)功率MOSFET作為串聯(lián)限流器件,并且控制啟動(dòng)涌入電流和故障電流。瞬變和故障事件發(fā)生期間,MOSFET的能耗會(huì)大于穩(wěn)定狀態(tài)下消耗的電能,并且會(huì)超過(guò)MOSFET的發(fā)熱限值,所以設(shè)計(jì)人員必須確保MOSFET在其安全工作區(qū)(SOA)內(nèi)運(yùn)行。有很多不錯(cuò)的資源可以幫助設(shè)計(jì)人員選擇一款合適的MOSFET來(lái)滿足所有事件區(qū)域內(nèi)的功率耗散要求。
表面上看起來(lái)簡(jiǎn)單的東西往往很復(fù)雜。就拿功率MOSFET來(lái)說(shuō)吧,功率MOSFET只有三個(gè)引腳(柵極、源極、漏極),但是誰(shuí)能想到看起來(lái)簡(jiǎn)單的功率MOSFET會(huì)那么復(fù)雜。如果為熱插拔應(yīng)用和功率轉(zhuǎn)換分別選MOSFET,你會(huì)選哪一個(gè)?詳細(xì)閱讀>>
功率MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管,即MOSFET,其原意是:MOS(Metal Oxide Semiconductor金屬氧化物半導(dǎo)體),F(xiàn)ET(Field Effect Transistor場(chǎng)效應(yīng)晶體管),即以金屬層(M)的柵極隔著氧化層(O)利用電場(chǎng)的效應(yīng)來(lái)控制半導(dǎo)體(S)的場(chǎng)效應(yīng)晶體管。
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RF 功率 MOSFET的最大應(yīng)用是無(wú)線通訊中的RF功率放大器。直到上世紀(jì)90年代中期,RF功率MOSFET還都是使用硅雙極型晶體管或GaAs MOSFET。到90年代后期,的出現(xiàn)改變了這一狀況。和硅雙極型晶體管或GaAs MOSFET相比較,硅基LDMOSFET有失真小、線性度好、成本低的優(yōu)點(diǎn),成為目前RF 功率 MOSFET的主流技術(shù)。詳細(xì)閱讀>>
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對(duì)于主板設(shè)計(jì)師來(lái)說(shuō),要設(shè)計(jì)處理器電壓調(diào)節(jié)模塊(VRM)來(lái)滿足計(jì)算機(jī)處理器永無(wú)止境的功率需求實(shí)在是個(gè)大挑戰(zhàn)。Pentium 4處理器要求VRM提供的電流提高了約3倍。英特爾將其VRM指標(biāo)從8.4版本升級(jí)到9.0版本,涵蓋了新的功率要求,以繼續(xù)追隨摩爾(Moore)定律。詳細(xì)閱讀>>
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英飛凌科技股份公司聯(lián)合Schweizer電子股份公司成功開(kāi)發(fā)出面向輕度混合動(dòng)力汽車的新技術(shù):芯片嵌入式功率MOSFET。它將顯著提升48 V系統(tǒng)的性能,同時(shí)降低它們的復(fù)雜度。大陸集團(tuán)動(dòng)力總成事業(yè)群將是首家采用這項(xiàng)技術(shù)的企業(yè)。詳細(xì)閱讀>>
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Vishay推出新款30V和40V汽車級(jí)p溝道TrenchFET?功率MOSFET---SQJ407EP和SQJ409EP,采用鷗翼引線結(jié)構(gòu)PowerPAK? SO-8L封裝,有效提升板級(jí)可靠性。SQJ407EP和SQJ409EP通過(guò)AEC-Q101認(rèn)證,占位面積比DPAK封裝器件減小50%以上,節(jié)省PCB空間并降低成本,同時(shí)導(dǎo)通電阻低于任何鷗翼引線結(jié)構(gòu)5mm x 6mm封裝MOSFET。詳細(xì)閱讀>>
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通常,許多資料和教材都認(rèn)為,MOSFET的導(dǎo)通電阻具有正的溫度系數(shù),因此可以并聯(lián)工作。當(dāng)其中一個(gè)并聯(lián)的MOSFET的溫度上升時(shí),具有正的溫度系數(shù)導(dǎo)通電阻也增加,因此流過(guò)的電流減小,溫度降低,從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)的均流達(dá)到平衡。同樣對(duì)于一個(gè)功率MOSFET器件,在其內(nèi)部也是有許多小晶胞并聯(lián)而成,晶胞的導(dǎo)通電阻具有正的溫度系數(shù),因此并聯(lián)工作沒(méi)有問(wèn)題。詳細(xì)閱讀>>
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逆變焊機(jī)的電路結(jié)構(gòu),一般是采用整流--逆變--再整流的過(guò)程,即交流--直流--交流.由于逆變過(guò)程中工作頻率高,因此控制過(guò)程的動(dòng)態(tài)特性統(tǒng)計(jì)局到提高,焊機(jī)的體積小,重量輕。詳細(xì)閱讀>>
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一支白熾燈泡中鎢絲的電阻可隨著溫度的變化產(chǎn)生超過(guò) 1:10 比率的變化。為了防止元件過(guò)熱,以及長(zhǎng)時(shí)間使用而造成的元件性能下降,一款具有可編程短路和過(guò)電流調(diào)節(jié)的電子開(kāi)關(guān)就顯得極為有用。一旦檢測(cè)到有過(guò)電流情況發(fā)生,標(biāo)準(zhǔn)及自恢復(fù) (re-settable) 保險(xiǎn)絲就會(huì)中斷負(fù)載電源,并且可能會(huì)用一個(gè)長(zhǎng)短不定的時(shí)間來(lái)進(jìn)行復(fù)位。與此不同的是,可以對(duì)一個(gè)電子開(kāi)關(guān)進(jìn)行編程來(lái)更具預(yù)見(jiàn)性地做出反應(yīng)。詳細(xì)閱讀>>
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電阻值的測(cè)量通常比較簡(jiǎn)單。但是,對(duì)于非常小阻值的測(cè)量,我們必須謹(jǐn)慎對(duì)待我們所做的假定。對(duì)于特定的幾何形狀,如電線,Kelvin方法是非常精確的??梢允褂妙愃频姆椒▉?lái)測(cè)量均勻樣本的體電阻率和面電阻率,但是所使用的公式不同。在這些情況下,必須考慮探針間距和樣本厚度。僅僅運(yùn)用Kelvin法本身無(wú)法保證精度。如果布局和連接數(shù)發(fā)生變化,就很難精確地預(yù)測(cè)非均勻幾何形狀的電阻。詳細(xì)閱讀>>
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工程師們將損壞的功率MOSFET送到半導(dǎo)體原廠做失效分析后,得到的結(jié)論通常是過(guò)電性應(yīng)力EOS,卻無(wú)法判斷是什么原因?qū)е翸OSFET的損壞。功率MOSFET損壞有哪些原因和形態(tài)?一牛人拍下了功率MOSFET不同損壞形態(tài)的失效分析圖片,結(jié)合功率MOSFET管的工作特性,系統(tǒng)的分析開(kāi)關(guān)電源功率MOSFET各種損壞模式,還給出了測(cè)試過(guò)電流和過(guò)電壓的電路圖哦。詳細(xì)閱讀>>
近年來(lái),功率MOSFET廣泛地應(yīng)用于電源、計(jì)算機(jī)及外設(shè)(軟、硬盤驅(qū)動(dòng)器、打印機(jī)、掃描器等)、消費(fèi)類電子產(chǎn)品、通信裝置、汽車電子及工業(yè)控制等領(lǐng)域。
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